Учёные из НИТУ МИСИС разработали более точную методику микроволновой микроскопии для изучения структуры и состава полупроводников, говорится в пресс-релизе университета.
Учёные из НИТУ МИСИС разработали более точную методику микроволновой микроскопии для изучения структуры и состава полупроводников, говорится в пресс-релизе университета.
С его помощью также можно исследовать паразитные двухуровневые системы в подложках, на которых размещены сверхпроводниковые квантовые биты (аналог классического бита в квантовом мире).
Классическим способом измеряют электродинамические характеристики разных веществ без повреждения образца, однако техника порой выдаёт помехи. Учёным же удалось преобразовать эти помехи в полезный сигнал, с помощью которого микроскоп может точнее различать похожие материалы. Теперь появилась возможность отличить тонкоплёночную структуру со слабым контрастом от диэлектрической подложки с точностью 98,7%.
Для демонстрации возможностей этой новой методики учёные использовали тонкую плёнку гранулированного алюминия на подложке из сапфира.
Этот метод микроскопии позволяет исследовать состав и структуру полупроводников, магнетиков, и органических материалов, например, молекул ДНК.
Напомним, недавно Нижегородский госуниверситет выиграл грант на разработку материала, использующегося в производстве лазерной техники.
Свежие комментарии